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X-RAY檢測儀的詳細(xì)講解

發(fā)布時間:2021-08-19 13:54:41 作者:托普科 點(diǎn)擊次數(shù):75

X-RAY檢測儀的詳細(xì)講解


X-RAY檢測儀是最近幾年興起的檢測設(shè)備,一般分在線和離線兩種,主要是檢測類似引腳細(xì)間距內(nèi)部焊接的品質(zhì)問題,因?yàn)锳OI只能檢測PCBA外部表面的焊接質(zhì)量,AOI無法檢測細(xì)間距內(nèi)部引腳的焊接,隨著BGA、QFP等封裝元件的貼片增多,因此X-RAY在近年逐漸興起。




目前使用較多的X射線檢測儀有兩種,一種是直射式X光檢測儀,一種是3D-X光分 層掃描檢測儀。前者價(jià)格低,但只能提供二維圖像信息,對于遮蔽部分難以進(jìn)行分析,而后 者可以檢測出焊點(diǎn)的內(nèi)在缺陷、BGA等面陣列器件隱藏焊點(diǎn)缺陷以及元器件本身相關(guān)內(nèi)在缺陷。



3D-X光分層掃描檢測儀檢測技術(shù)采用了掃描束 X射線分層照相技術(shù),能獲得三維影像信息,且可以消除遮蔽陰影。它與計(jì)算機(jī)圖像處理技 術(shù)相結(jié)合,能對PCB內(nèi)層上的焊點(diǎn)進(jìn)行高分辨率的檢測,特別適應(yīng)于BGA、CSP等封 裝器件下的隱蔽焊點(diǎn)的檢測。


通過焊點(diǎn)的三維影像可測出焊點(diǎn)的三維尺寸、焊錫量和焊料 的潤濕狀況,準(zhǔn)確客觀地確定焊點(diǎn)缺陷,還能對印制電路板金屬化通孔的質(zhì)量進(jìn)行非破壞性 檢測。

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